QNix® 8500 ist unsere Empfehlung für Industrielackierung, Oberflächenveredelung und schweren Korrosionsschutz
Ein Schichtdickenmessgerät für jedes Anwendungsgebiet
Der QNix® 8500 ist unser modulares Schichtdickenmessgerät mit Messwertspeicher, Statistikfunktionen, Softwareauswertung und austauschbaren Sonden. Es eignet sich für nahezu jedes Anwendungsgebiet der Schichtdickenmessung und ist sehr robust. Als QNix®-Anwender profitieren Sie zudem von der einfachen Bedienung – und selbstverständlich von präzisen und schnellen Messergebnissen.
Ihre Anforderungen
Benötigen Sie ein flexibles Schichtdickenmessgerät mit dem Sie unterschiedliche Schichtdickenmessungen durchführen – und das Sie auch nachträglich an unterschiedliche Aufgaben anpassen können? Sie möchten im Rahmen interner Qualitätssicherung oder aufgrund von Kundenvorgaben die gemessene Schichtdicke langfristig nachvollziehbar dokumentieren?
Dann ist der QNix® 8500 für Messungen auf Stahl, Eisen (Fe) und Nichteisenmetallen (NFe) wie Aluminium, Zink, Kupfer oder Messing das richtige Gerät für Sie. Auch bei besonderen Messanforderungen unterstützt Sie der QNix® 8500 und liefert Ihnen bei einfacher Bedienung schnelle und präzise Messergebnisse.
Unser modulares Konzept
Das digitale Schnittstellenkonzept von QNix® macht Ihr Schichtdickenmessgerät zukunftsfähig. Erweitern Sie Ihren QNix® 8500 durch:
- Sonden mit einem größeren Messbereich
- Sonden für andere Substratarten
- Funksonden für Messungen an für Personen schwer zugänglichen Stellen
- Sonden zur Messung von dünnen Schichten
Easy-to-use
In vielen Anwendungsfällen reicht eine einfache Nullpunktjustierung auf dem Grundsubstrat. Zur Anpassung an abweichende Substrateigenschaften bietet der QNix® 8500 zusätzlich die Möglichkeit zur Ein- und Zweipunktjustierung. So können Sie zum Beispiel Messungen auf gekrümmten Oberflächen und Kleinteilen durchführen – sogar auf Edelstahlsorten oder anderen Stahllegierungen. Auch die Messung auf rauen Substratoberflächen ist kein Problem. Durch eine frei wählbare Anzahl von Nullreferenz-Messwerten lässt sich eine mittlere Nullreferenz berechnen und abspeichern. Mit einer Ein- oder Zweipunktjustierung können Anwender dank QNix® die Rauheit kompensieren.
Durch den kombinierten Messmodus werden zwei Messverfahren in einem Messvorgang angewendet. So können Anwender beispielsweise Zinkschichten ab 50 µm und den Decklack in einem Messvorgang ermitteln, anzeigen und zur späteren Dokumentation abspeichern.
Zur Erfüllung von Standards, Normen oder anderen Vorgaben kann eine Mittelwertbildung über eine frei konfigurierbare Anzahl von Messwerten eingestellt werden. So ergeben beispielsweise drei Einzelmesswerte einen Messwert. Werden Messwerte gespeichert, wird jeweils nur jeder errechnete Mittelwert aus drei Einzelmessungen gespeichert.
Der QNix® 8500 ist unser flexibelstes Schichtdickenmessgerät. Es unterstützt Sie in vielen Anwendungen optimal – und ist dabei gewohnt einfach in der Bedienung. Alle QNix® Schichtdickenmessgeräte werden nach unserem Easy-to-use-Prinzip entwickelt: aufsetzen, messen, ablesen.
QNix® 8500 im Detail
Anwendungsvorteile des QNix® 8500
- Zukunftssicher: modulare Gerätesystem für Standard-, Funk- und Stiftsonde
- Visuelle Signalisierung von: Messungen, Datenübertragung und Grenzwertüberschreitung - mit zweifarbiger LED
- Gute Ablesbarkeit auch bei schlechten Lichtverhältnissen und bei starker Sonneneinstrahlung – hochauflösendes, hintergrundbeleuchtetes LCD mit großen Ziffern
- Schutz der Messsonde und der zu messenden Oberflächen: polierte Rubin-Messkopfspitze
QNix® 8500 Standardsonden (Fe, NFe, Dual)
QNix® 8500 Fe 2 mm
| Sonde | QNix® 8500 Fe 2 mm |
|---|---|
| Messbereich | 2000 µm |
| Substrat | Fe |
| Abweichung | +/- (1 µm + 2%) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, ISO 2178, BS 5411 (11), BS 3900-C5, ASTM B 499, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats | 200 µm |
| Gewicht | Ca. 12 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 60 x 26 x 22 ohne Anschluss |
QNix® 8500 Fe 5 mm
| Sonde | QNix® 8500 Fe 5 mm |
|---|---|
| Messbereich | 5000 µm |
| Substrat | Fe |
| Abweichung |
0 – 1999 µm: +/- (2% +- 1 µm) 2000 – 5000 µm: +/- (3,5% +- 2 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, ISO 2178, BS 5411 (11), vBS 3900-C5, ASTM B 499, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats | 200 µm |
| Gewicht | Ca. 12 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 60 x 26 x 22 ohne Anschluss |
QNix® 8500 NFe 2mm
| Sonde | QNix® 8500 NFe 2mm |
|---|---|
| Messbereich | 2000 µm |
| Substrat | Fe |
| Abweichung | +/- (2% +- 1 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, BS 3900-C5, ASTM D 7091, DIN 50984, BS 5411 (3), ISO 2360, ASTM D 140 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm
Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats | 50 µm |
| Gewicht | Ca. 12 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 60 x 26 x 22 ohne Anschluss |
QNix® 8500 Dual Fe/NFe 2000 µm
| Sonde | QNix® 8500 Dual Fe/NFe 2000 µm |
|---|---|
| Messbereich | 2000 µm |
| Substrat | Fe und NFe |
| Abweichung | +/- (2% +- 1 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, DIN 50984, ISO 2178, BS 5411 (3 & 11), BS 3900-C5, ASTM B 499, ISO 2360, ASTM D 1400, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm
Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm
Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats |
Fe: 200 µm
NFe: 50 µm |
| Gewicht | Ca. 12 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 60 x 26 x 22 ohne Anschluss |
QNix® 8500 Dual Fe / NFe 5000 µm / 2000 µm
| Sonde | QNix® 8500 Dual Fe / NFe 5000 µm / 2000 µm |
|---|---|
| Messbereich |
Fe: 5000 µm NFe: 2000 µm" |
| Substrat | Fe/NFe |
| Abweichung |
0 – 1999 µm: +/- (2% +- 1 µm) 2000 – 5000 µm: +/- (3,5% +- 2 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, DIN 50984, ISO 2178, BS 5411 (3 & 11), BS 3900-C5, ASTM B 499, ISO 2360, ASTM D 1400, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats |
Fe: 200 µm NFe: 50 µm |
| Gewicht | Ca. 12 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 60 x 26 x 22 ohne Anschluss |
QNix® 8500 Funksonden (Fe, NFe, Dual)
Unsere QNix® Funksonde ermöglicht komfortable Schichtdickenmessungen, auch an schwer zugänglichen Stellen.
Mit einem Gewicht von nur 30 Gramm und einer Reichweite von 20 Metern ermöglicht Ihnen unsere Funksonde ein äußerst sicheres und flexibles Messen.
Alle Standardsonden sind auch als Funksonde erhältlich.
| Sonde | QNix® 8500 Fe 2 mm |
|---|---|
| Messbereich | 2000 µm |
| Substrat | Fe |
| Abweichung | +/- (2% +- 1 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, ISO 2178, BS 5411 (11),BS 3900-C5, ASTM B 499, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm
Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm
Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats | 200 µm |
| Gewicht | Ca. 30 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 61 x 28 x 28 |
| Frequenzbereich | 2,4 GHz |
| Reichweite | Max. 20 m |
| Stromversorgung | Lithium-Ionen Akkumulator, aufladbar über QNix® 8500 Handgerät |
| Akkukapazität | Max. 4000 Messungen |
| Ladedauer | 5 Stunden |
| Sonde | QNix® 8500 Fe 5 mm |
|---|---|
| Messbereich | 5000 µm |
| Substrat | Fe |
| Abweichung |
0 – 1999 µm: +/- (2% +- 1 µm)
2000 – 5000 µm: +/- (3,5% +- 2 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, ISO 2178, BS 5411 (11), BS 3900-C5, ASTM B 499, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm
Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm Konkav: 30 mm |
| Gewicht | Ca. 30 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 61 x 28 x 28 |
| Frequenzbereich | 2,4 GHz |
| Reichweite | Max. 20 m |
| Stromversorgung | Lithium-Ionen Akkumulator, aufladbar über QNix® 8500 Handgerät |
| Akkukapazität | Max. 4000 Messungen |
| Ladedauer | 5 Stunden |
| Sonde | QNix® 8500 NFe 2mm |
|---|---|
| Messbereich | 2000 µm |
| Substrat | Fe |
| Abweichung | +/- (2% +- 1 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, BS 3900-C5, ASTM D 7091, DIN 50984, BS 5411 (3), ISO 2360, ASTM D 140 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm
Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm Konkav: 30 mm |
| Gewicht | Ca. 30 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 61 x 28 x 28 |
| Frequenzbereich | 2,4 GHz |
| Reichweite | Max. 20 m |
| Stromversorgung | Lithium-Ionen Akkumulator, aufladbar über QNix® 8500 Handgerät |
| Akkukapazität | Max. 4000 Messungen |
| Ladedauer | 5 Stunden |
| Sonde | QNix® 8500 Dual Fe/NFe 2000 μm |
|---|---|
| Messbereich | 2000 µm |
| Substrat | Fe und NFe |
| Abweichung | +/- (2% +- 1 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, DIN 50984, ISO 2178, BS 5411 (3 & 11), BS 3900-C5, ASTM B 499, ISO 2360, ASTM D 1400, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm
Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm
Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats |
Fe: 200 µm NFe: 50 µm |
| Gewicht | Ca. 30 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 61 x 28 x 28 |
| Frequenzbereich | 2,4 GHz |
| Reichweite | Max. 20 m |
| Stromversorgung | Lithium-Ionen Akkumulator, aufladbar über QNix® 8500 Handgerät |
| Akkukapazität | Max. 4000 Messungen |
| Ladedauer | 5 Stunden |
| Sonde | QNix® 8500 Dual Fe / NFe 5000 μm / 2000 μm |
|---|---|
| Messbereich |
Fe: 5000 µm NFe: 2000 µm |
| Substrat | Fe/NFe |
| Abweichung |
0 – 1999 µm: +/- (2% +- 1 µm) 2000 – 5000 µm: +/- (3,5% +- 2 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, DIN 50984, ISO 2178, BS 5411 (3 & 11), BS 3900-C5, ASTM B 499, ISO 2360, ASTM D 1400, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 20 mm Messradius: 10 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 5 mm Konkav: 30 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats |
Fe: 200 µm NFe: 50 µm |
| Gewicht | Ca. 30 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 61 x 28 x 28 |
| Frequenzbereich | 2,4 GHz |
| Reichweite | Max. 20 m |
| Stromversorgung | Lithium-Ionen Akkumulator, aufladbar über QNix® 8500 Handgerät |
| Akkukapazität | Max. 4000 Messungen |
| Ladedauer | 5 Stunden |
QNix® 8500 Stift-Sonde (Fe)
Unsere QNix® Stift-Sonde ermöglicht Ihnen die Messungen dünner Beschichtungen wie zum Beispiel Chrom, Kupfer, Zink etc. sowie Lacke, Emaille oder Kunststoffbeschichtungen auf ferromagnetischen Substraten.
Gerade bei der Schichtdickenmessung auf Kleinstteile oder in der Nähe von Kanten, werden durch unsere QNix® Stift-Sonde störende Messeffekte reduziert.
| Sonde | QNix® Messsonde MI Fe 500 µm |
|---|---|
| Messbereich | 500 µm |
| Substrat | Fe |
| Abweichung | + (0,8% +- 0,1 µm) |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 2808, DIN 50981, ISO 2178, BS 5411 (11), BS 3900 – C5, ASTM B499, ASTM D 1186, ASTM D 709 |
| Kleinste Messfläche |
∅ 7 mm Messradius: 3,5 mm |
| Kleinster Krümmungsradius |
Konvex: 4 mm Konkav: 5 mm |
| Kleinste Dicke des Substrats | 400 µm |
| Gewicht | Ca. 95 g |
| Abmessungen (L x B x H in mm) | 120 x 12 x 12 ohne Anschluss |
Grundfunktionen
| Funktionen | QNix® 8500 Basic | QNix® 8500 Premium |
|---|---|---|
| Hintergrundbeleuchtetes LCD | ✔ | ✔ |
| Anzeigenausrichtung: Normal/Gedreht | ✔ | ✔ |
| Anzeigenauflösung | Normal | Grob/Normal/Fein |
| Akustische Messbestätigung | ✔ | ✔ |
| Einheitenumschaltung µm/mil | ✔ | ✔ |
| Datum- und Zeitanzeige | ✔ |
Messfunktionen
| Funktionen | QNix® 8500 Basic | QNix® 8500 Premium |
|---|---|---|
| Automatische Substratumschaltung | ✔ | ✔ |
| Manuelle Substratumschaltung | ✔ | ✔ |
| Einzelmessung | ✔ | ✔ |
| Oberes/unteres Limit | ✔ | ✔ |
| Oberes/unteres Limit je Speicherblock einstellbar | ✔ | |
| Mittelwert | ✔ | |
| Kontinuierliche Messungen | ✔ | |
| Kombinierte Messung (Duplexbeschichtungen) | ✔ |
Speicherfunktionen
| Funktionen | QNix® 8500 Basic | QNix® 8500 Premium |
|---|---|---|
| Anzahl Messwerte | Bis zu 100 | Bis zu 30.000 (max. 2.000 pro Block) |
| Anzahl Blöcke | 1 | 250 |
| Blockname - Info – oberes/unteres Limit | ✔ |
Lieferumfang QNix® 8500 Basic und QNix® 8500 Premium
- Handgerät QNix® 8500 (Version Basic oder Premium)
- Messsonde (optional)
- Adapterkabel für externe Standardsonde (nur beim Kauf von Handgerät und Sonde, sonst optional)
- Software-CD und USB-Dongle (Premium)
- Prüfzertifikat für optionale Mess-Sonde
- Fe- und NFe-Referenzplatte
- 2 Mignon-Batterien 1,5V (AA) Alkaline
- Bedienungsanleitung
- Softtasche mit Gürtelclip
- Kunststoffkoffer zum Transport und zur Aufbewahrung
Die QNix® PC-Software unterstützt Sie dabei, Messdaten auszuwerten, zu dokumentieren und mit Kollegen oder Projektpartnern zu teilen
Sie erhalten durch den kabellosen Export der Messwerte die Möglichkeit, Ihre Ergebnisse komfortabel am PC in einer Tabellenkalkulation statistisch auszuwerten und zu dokumentieren. Ebenfalls besteht die Möglichkeit den QNix® 8500 komfortabel vom PC aus zu konfigurieren – immer individuell anhand Ihrer Anforderungen.
Technische Daten QNix® 8500
| Messprinzip |
Zwei magnetische Messprinzipien
Fe: Magnetische Induktion siehe Fe* (ISO 2178) NFe: Wirbelstrom siehe NFe* (ISO 2360) |
|---|---|
| Sondentyp |
Austauschbar: Standardsonden, Funksonden, MI-Stiftsonde (Dünnschicht) Siehe: unser Sondenprogramm für den QNix® 8500 |
| Nach Norm | Siehe: unser Sondenprogramm für den QNix® 8500 |
| Einheitenumschaltung | µm/mil |
| Messzeitabstand | 500 ms – 1600 ms (Siehe Sondenprogramm QNix® 8500) |
| Messwertanzeige | von 0 – 999 in µm, ab 1000 µm in mm |
| Anzeigeauflösung |
0,1 µm im Bereich von 0 – 100 µm
1 µm im Bereich von 100 – 999 µm 0,01 mm im Bereich ab 1000 µm |
| Anzeige | Hintergrundbeleuchtetes LCD |
| Betriebstemperaturbereich | 0 - 50° |
| Zulässige Lagertemperatur | -10° C - 60° C |
| Stromversorgung | 2 x Batterien 1,5 V (Typ AA Alkali) |
| Abmessungen ohne Sonde (L x B x H in mm) | 90 x 65 x 30 |
| Gewicht inkl. Batterien (ohne Sonde) | 114 g |
Fe* Messung von nicht ferro- bzw. nicht ferrimagnetischen Beschichtungen auf ferromagnetischem Substrat, zum Beispiel: Messung auf Eisen- oder Stahlsubstrat
NFe* Messung von nicht ferro- bzw. nicht ferrimagnetischen und nicht elektrisch leitfähigen Beschichtungen auf nicht ferro- bzw. nicht ferrimagnetischem und elektrisch leitfähigem Substrat, zum Beispiel: Messung auf Aluminium-, Zink-, Kupfer-, Messing- und bestimmten Edelstahl-Substraten
Technische Änderungen vorbehalten